背景资料：
边扫描测试是在20世纪80年代中期做为解决PCB物理访问问题的 JTAG接口发展起来的，这样的问题是新的封装技术导致电路板装配日益拥挤所产生的。1990年JTAG正式由IEEE的1149.1-1990号文档标准化，在1994年，加入了补充文档对边界扫描描述语言（BSDL）进行了说明。从那时开始，这个标准被全球的电子企业广泛采用。边界扫描几乎成为了JTAG的同义词。 在传统服务器/桌面机/工作站往往对于主板的测试分为边界扫描测试 (BSI)和功能测试(FCT),边界扫描(boundary scan)测试发展于上个世纪90年代，随着大规模集成电路的出现，印制电路板制造工艺向小，微，薄发展，传统的ICT测试已经没有办法满足这类产品的测试要求。 由于芯片的引脚多，元器件体积小，板的密度特别大，根本没有办法进行下探针测试。

边界扫描仪 BSI（Boundary Scan inspect),也称为 BST(Boundary Scan Tester),是为了解决印制电路板（PCB）上芯片与芯片之间的互连测试而提出的一种解决方案。边界扫描的原理是在核心逻辑电路的输入和输出端口都增加一个寄存器，通过将这些 I/O 上的寄存器连接起来，可以将数据串行输入被测单元，并且从相应端口串行读出。

功能测试（三方面）：
• 首先是芯片级测试，即可以对芯片本身进行测试和调试,使芯片工作在正常功能模式，通过输入端输入测试矢量，并通过观察串行移位的输出响应进行调试。
• 其次是板级测试，检测集成电路和PCB之间的互连。实现原理是将一块PCB上所有具有边界扫描的IC中的扫描寄存器连接在一起，通过一定的测试矢量，可以发现元件是否丢失或者摆放错误，同时可以检测引脚的开路和短路故障。
• 最后是系统级测试，在板级集成后，可以通过对板上CPLD或者Flash的在线编程，实现系统级测试。

自主研发功能测试盒，用于计算机，服务器等产品的测试，快速测试 PCBA 中CPU ，DIMM，PCIE 等器件中的链路通断等，提高测试效率。